仪器设备名称：三维重构成像X射线显微镜  

型号规格

MICROXCT-400

国别厂家

美国Xradia公司

启用日期

2011.10

负责人

方全堂

设备放置地点

国重B109

联系电话

83032683

技术指标：

1.      X光源的最大功率为10W，最大允许电压140KV；  

2.      配套有三种不同放大倍数镜头，4X、10X、20X；  

3.      理论最大分辨率为1μm；

4.      CCD最大分辨率2048*2048；

5.      载物台旋转角度-180℃~180℃，最大承重15kg；  

6.      测试样品直径小于500mm，高度小于400mm。

功能用途：

功能：通过让X射线从不同方向穿过被扫描的样品，利用特定探测装置测量X射线沿着不同辐射路线的穿透量，从而获得物体各个断面的图像（投影数据），再根据图像重构算法由样品的投影数据建立样品内部断层图像，从而获得样品内部结构。  

系统特征：

1.      利用计算机控制X光断层扫描技术获取岩石内部结构；

2.      具有极高的三维空间分辨率（理论最高分辨率<1μm）；

3.      空间分辨率与样品尺寸不直接相关；  

4.      具有较好的衬度，可分辨低原子序数的材料。